GIS现场耐压及绝缘试验时,被试品可能出现的绝缘缺陷类型包括() A、侵入的自由微粒B、屏蔽罩或电极表面损伤C、导电回路接触不良D、绝缘件制造或安装工艺不良 电气试验班 发布时间:2023-08-08 23:29:57